Phát hiện sớm bệnh tự kỷ nhờ phương pháp chụp cắt lớp não
Ngày 7/6, các nhà khoa học Mỹ tuyên bố công nghệ chụp cắt lớp não có thể giúp phát hiện sớm những thay đổi về mặt chức năng ở trẻ có nguy cơ cao bị bệnh tự kỷ ngay từ khi trẻ khoảng 6 tháng tuổi, từ đó giúp dự đoán khả năng mắc bệnh trước 2 tuổi.
